高玉民 / GAO Yumin

高玉民，毕业于南京大学物理系, 获法国巴黎大学物理学博士学位。

他在材料分析技术方面具有丰富的工作经验，特别是在半导体研究和表征方面运用二次离子质谱（SIMS）方面超过35年。他曾工作于多家欧美材料分析实验室，包括在欧美成功创立和运营第三方分析服务公司。他在SIMS定量分析技术方面取得了许多突破，并作为第一作者或合作作者在学术期刊上发表了100多篇文章, 并担任中国计量测试学会离子与原子探针专业委员会委员。